图片 |
标 题 |
更新时间 |
 |
功率循环试验分析实验室 西安长禾半导体技术有限公司(简称“长禾实验室”),位于中国西部科技创新高地——西安市高新技术产业开发区,是一家专注于功率半导体器件检测与验证的高新技术企业。 作为国家认可委员会(CNAS)正式认证的大功率
|
2025-02-20 |
 |
IGBT第三代半导体器件电参数测试实验室 西安长禾半导体技术有限公司(简称“长禾实验室”),位于中国西部科技创新高地——西安市高新技术产业开发区,是一家专注于功率半导体器件检测与验证的高新技术企业。 作为国家认可委员会(CNAS)正式认证的大功率
|
2025-02-20 |
 |
MOSFET模块雪崩能量测试服务实验室 西安长禾半导体技术有限公司(简称“长禾实验室”),位于中国西部科技创新高地——西安市高新技术产业开发区,是一家专注于功率半导体器件检测与验证的高新技术企业。 作为国家认可委员会(CNAS)正式认证的大功率
|
2025-02-20 |
 |
MOSFET器件电参数测试服务实验室 西安长禾半导体技术有限公司(简称“长禾实验室”),位于中国西部科技创新高地——西安市高新技术产业开发区,是一家专注于功率半导体器件检测与验证的高新技术企业。 作为国家认可委员会(CNAS)正式认证的大功率
|
2025-02-20 |
 |
电力半导体器件测试分析实验室 检测项目覆盖产品检测能力参考标准直流参数MOSFET、IGBODE等模块产品;检测电压:7500V 检测电流:6000A国标,IEC雪崩能量MOSFET、IGBODE,第三代半导体器件等单管器件检测电压:2500V 检测电流:200A美军标栅电阻MO
|
2025-02-20 |
 |
IGBT动态参数 电子元器件失效分析实验室 西安长禾半导体技术有限公司(简称“长禾实验室”),位于中国西部科技创新高地——西安市高新技术产业开发区,是一家专注于功率半导体器件检测与验证的高新技术企业。 作为国家认可委员会(CNAS)正式认证的大功率
|
2025-02-20 |
 |
MOSFET静态参数 电子元器件失效分析实验室 DC) 执行标准:IEC60747、GB/T29332-2012、DIODE、SCR、IGBT、2000V 检测z大电流:IR、ICEO、IDOFF、 IRRM、IGESF、IEBO、 IGSSR; 击穿参数:BVCES、BVCBO、 VRRM、BVZ、BVGSS; 导通参数:VBESAT、VF、VGETH、VGS
|
2025-02-20 |
 |
SCR静态参数 电子元器件失效分析实验室 DC) 执行标准:IEC60747、GB/T 29332-2012; 试验对象:IGBT、SCR、整流桥等功率; 试验能力:检测z大电压:5000A 试验参数: 漏电参数:ICBO、IDSS、IDRM、ICES、IGESR、IGSSF、BVCEO、BVDSS、VDRM、BVR、BVEBO、V
|
2025-02-20 |