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长禾实验室拥有的系统设备的技术团队和完善的服务体系。实验室现有的测试仪器设备100余台套测试人员20余名。我们紧跟国际国内标准，以客户需求为导向，不断创新服务项目和检测技术，借助便利的服务网络，为合作伙伴提供的技术服务。
长禾实验室注于功率半导体器件的动、静态参数检测、可靠性检测、失效分析、温循试验、热阻测试等域的技术服务。业务范围主要涉及国内轨道交通、风力发电、科研单位院所、工业控制船舶、航空航天、新能源汽车等行业。也是第三代半导体（宽禁带半导体）应用解决方案服务商。
长禾实验室秉承创新务实的经营理念，为客户提供的服务、完善的解决方案及的技术支持；同时注重与行业企业、高校和科研院所的合作与交流，测试技术与服务水平不断提升。
白经理：15891485109
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雪崩耐量测试（UIS） |
执行标准：MIL-STD-750，IEC60747，客户自定义； 试验对象：MOSFET、IGBT、DIODE，第三代半导体器件等单管器件； 试验能力：检测z大电压：4500V，检测z大电流：200A 试验参数：雪崩能量EAS |
功率器件参数验证与二次筛选测试：保障器件性能稳定，助力客户优化供应链质量控制。
车规级元器件检测与认证：针对新能源汽车领域，提供符合严苛车规标准的功率器件筛选与可靠性验证，助力行业客户突破核心技术瓶颈。
环境与老化实验：模拟极端环境下器件工作状态，确保产品在复杂工况中长期可靠运行。
失效分析及可靠性评估：快速精准定位元器件失效根因，为产品改进和技术迭代提供有力支撑。